Pascal Dherbecourt
IdRefMots clés
FR |
EN
Fiabilité
Vieillissement
Électronique de puissance
Robustesse
Court-circuit
Transistors MOSFET
Semiconducteurs
Composants électroniques
Matériaux -- Détérioration
Transistors de puissance
Convertisseurs électriques
GaN
Télécommunications optiques
Ondes millimétriques
Diodes laser
Photodiodes
Modulation d'amplitude
Interférométrie
Polarisation (lumière)
Biréfringence