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Yves Danto a dirigé les 30 thèses suivantes :

Méthodologie d'essais accélérés de torsion et de détection de défaillance appliquée aux assemblages électroniques à billes

par Wilson Carlos Maia Filho sous la direction de Yves Danto et de Hélène Fremont . - Bordeaux 1

Sciences physiques et de l'ingénieur. Électronique
Soutenue en 2008
Thèse soutenue

Fiabilité de diodes laser DFB 1,55 um pour des applications de télécommnication : approche statistique et interaction composant-système

par Laurent Mendizabal sous la direction de Yves Danto - Bordeaux 1

Sciences physiques et de l'ingénieur. Électronique
Soutenue en 2006
Thèse soutenue

Fiabilité des amplificateurs optiques à semiconducteur 1,55 um pour des applications de télécommunication : étude expérimentale et modélisation physique

par Sarah Huygue sous la direction de Yves Danto - Bordeaux 1

Sciences physiques et de l'ingénieur. Électronique
Soutenue en 2005
Thèse soutenue

Développement et caractérisation d'une technologie d'interconnexions de puissance basée sur le dépôt cible d'une métallisation de cuivre

par Laurence Amigues sous la direction de Yves Danto - Bordeaux 1

Sciences physiques et de l'ingénieur. Électronique
Soutenue en 2005
Thèse soutenue

Contribution à l'intégration de la fiabilité dans le flot de conception des circuits intégrés fondée sur l'utilisation d'un langage de description comportementale VHDL-AMS

par Benoît Mongellaz sous la direction de Yves Danto - Bordeaux 1

Sciences physiques et de l'ingénieur. Électronique
Soutenue en 2004
Thèse soutenue

Etude de la durée de vie d'assemblages microélectroniques par l'utilisation de simulations, de modèles de dégradation et de circuits intégrés spécifiques de test

par Jean-Yves Delétage sous la direction de Yves Danto - Bordeaux 1

Sciences physiques et de l'ingénieur. Électronique
Soutenue en 2003
Thèse soutenue

Interconnexions en cuivre d'architecture damascène : modélisation du polissage mécano-chimique (P.M.C.) et étude du phénomène de formation de cavités dans le cuivre

par Céline Roussel sous la direction de Yves Danto - Bordeaux 1

Micro-électronique
Soutenue en 2003
Thèse soutenue

Diagnostic de défaillances de systèmes optoélectroniques émissifs pour applications de télécommunication : caractérisations électro-optiques et simulations thermomécaniques

par Yannick Deshayes sous la direction de Yves Danto - Bordeaux 1

Sciences physiques et de l'ingénieur. Électronique
Soutenue en 2002
Thèse soutenue

Localisation de défaut par la face arrière des circuits intégrés

par Félix Beaudoin sous la direction de Yves Danto et de Dean Lewis . - Bordeaux 1

Sciences physiques et de l'ingénieur. Électronique
Soutenue en 2002
Thèse soutenue

Évaluation de la fiabilité des adhésifs conducteurs en remplacement des brasures étain/plomb pour la réalisation des assemblages électroniques type CMS

par Marie Geneviève Périchaud sous la direction de Yves Danto - Bordeaux 1

Sciences physiques et de l'ingénieur. Électronique
Soutenue en 2000
Thèse soutenue

Caractérisation des dégradations induites par un faisceau d'ions focalisé sur des circuits intégrés

par Jamel Benbrik sous la direction de Yves Danto - Bordeaux 1

Électronique
Soutenue en 1999
Thèse soutenue

Conception et réalisation d'un système ultrasonore à balayage appliqué au diagnostic de défauts dans les microassemblages : contribution à l'aide à l'interprétation par traitement de l'image et du signal

par Laurent Bechou sous la direction de Yves Danto - Bordeaux 1

Électronique
Soutenue en 1998
Thèse soutenue

Localisation de défauts dans les circuits intégrés complexes dont le dessin des masques est inconnu

par Romain Desplats sous la direction de Yves Danto - Bordeaux 1

Électronique
Soutenue en 1998
Thèse soutenue

Analyse de défaillances dans les condensateurs céramique multicouches par la résonance piézoélectrique

par Saïd Mejdi sous la direction de Yves Danto - Bordeaux 1

Électronique
Soutenue en 1997
Thèse soutenue

Conception, réalisation et validation d'un circuit intégré de test pour la fiabilisation des technologies d'encapsulation plastique

par Christine Ducos sous la direction de Yves Danto - Bordeaux 1

Électronique
Soutenue en 1997
Thèse soutenue

Développement d'une méthodologie et des techniques d'analyse associées permettant l'évaluation de la qualité et de la fiabilité des transistors à haute mobilité électronique

par Nathalie Malbert sous la direction de Yves Danto - Bordeaux 1

Électronique
Soutenue en 1996
Thèse soutenue

Application de la gravure laser directe à la personnalisation des circuits intégrés et à la fabrication de modules d'interconnexion multipuces en technologie couches minces

par Mohamed Fathi sous la direction de Yves Danto - Bordeaux 1

Électronique
Soutenue en 1996
Thèse soutenue

Etude d'assemblages microélectroniques soumis à des cyclages thermiques : application aux choix technologiques

par Alain Fenech sous la direction de Yves Danto - Bordeaux 1

Électronique
Soutenue en 1996
Thèse soutenue

Elaboration d'une méthodologie de localisation de défauts sur circuits intégrés logiques par test sous faisceau d'électrons : application à différentes fonctions électroniques

par François Marc sous la direction de Yves Danto - Bordeaux 1

Électronique
Soutenue en 1994
Thèse soutenue

Etude du comportement thermomécanique et de la fiabilité d'assemblages de composants montés en surface, utilisés en environnement automobile sévère

par Ali Hijazi sous la direction de Yves Danto - Bordeaux 1

Électronique
Soutenue en 1993
Thèse soutenue

Étude des effets parasites du transistor à haute mobilité électronique : corrélation avec les aspects technologiques et la fiabilité

par Dissadama Ouro Bodi sous la direction de Yves Danto - Bordeaux 1

Électronique
Soutenue en 1992
Thèse soutenue

Test par faisceau d'électrons et analyse d'images : contribution au diagnostic automatique et assisté de pannes dans les circuits intégrés

par Jean-Philippe Pierrel sous la direction de Yves Danto - Bordeaux 1

Micro-électronique
Soutenue en 1992
Thèse soutenue

Etude et mise au point d'une station de photolithographie par faisceau laser hélium cadmium pour la personnalisation de circuits microélectroniques

par Alain Fleury sous la direction de Yves Danto - Bordeaux 1

Physique
Soutenue en 1992
Thèse soutenue

Etude et mise au point d'une station de photolithographie par faisceau laser hélium cadmium pour la personnalisation de circuits microélectroniques

par Alain Fleury sous la direction de Yves Danto - Bordeaux 1

Physique
Soutenue en 1992
Thèse soutenue

Évaluation de la qualité et de la fiabilité de condensateurs utilisés dans les circuits microélectroniques

par Nanhan Xiong sous la direction de Yves Danto - Bordeaux 1

Électronique
Soutenue en 1990
Thèse soutenue

Analyse technologique et électrique des dispositifs basés sur le transistor à effet de champ à grille Schottky sur arséniure de gallium

par Nathalie Labat sous la direction de Yves Danto - Bordeaux 1

Électronique
Soutenue en 1990
Thèse soutenue

Détection et localisation de défauts dans les circuits intégrés logiques par test sous faisceau laser

par Bertrand Simonin sous la direction de Yves Danto - Bordeaux 1

Sciences
Soutenue en 1988
Thèse soutenue

Test de circuit intégrés par faisceau d'électrons : étude de la mesure de potentiel à travers les couches isolantes

par Hélène Fremont sous la direction de Yves Danto - Bordeaux 1

Sciences
Soutenue en 1988
Thèse soutenue

Elaboration et caractérisation des siliciures utilisés comme matériaux de grille ou d'interconnexion dans les circuits VLSI

par Isabelle Lombaert sous la direction de Yves Danto - Bordeaux 1

Électronique
Soutenue en 1988
Thèse soutenue

Contribution à l'étude de la technologie bipolaire STL : caractérisation, modélisation et simulation de diodes Schottky TiW-Si et PtSi-Si

par Denis Caillé sous la direction de Yves Danto - Bordeaux 1

Sciences
Soutenue en 1988
Thèse soutenue


Yves Danto a été président de jury de la thèse suivante :

Propriétés structurales et électriques de couches d’oxyde de silicium élaborées par plasma basse température d’oxygène/tétraethoxysilane sur des alliages silicium-germanium

par Didier Goregho sous la direction de Guy Turban - Nantes

Microélectronique, électronique et génie électrique
Soutenue en 2001
Thèse soutenue


Yves Danto a été rapporteur des 2 thèses suivantes :

Convertisseurs haute tension : contribution à l'intégration de la fonction interrupteur

par David Frey sous la direction de Christian Schaeffer et de Jean-Luc Schanen . - Grenoble INPG

Génie électrique
Soutenue en 2003
Thèse soutenue

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Etude des décharges électrostatiques dans les circuits MOS submicroniques et optimisation de leurs protections

par Pascal Salomé sous la direction de Jean-Pierre Chante - Lyon, INSA

Dispositif de l'électronique intégrée
Soutenue en 1998
Thèse soutenue

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