Vincent Pouget
Mots clés
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Circuits intégrés
Analyse de défaillance
Fiabilité
Stimulation laser
Composants électroniques
Effets singuliers
Faisceaux laser
Lasers
MOS complémentaires
Lasers femtoseconde
Laser
Systèmes embarqués (informatique)
Circuits intégrés à très grande échelle
Radiation
Analyse des Temps entre défaillances
Microélectronique
Ions lourds
Radioactivité
Semiconducteurs
Défauts