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des thèses françaises
Vincent Pouget
IdRefMots clés
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Circuits intégrés
Analyse de défaillance
Composants électroniques
Stimulation laser
Faisceaux laser
MOS complémentaires
Laser
Circuits intégrés à très grande échelle
Radiation
Effets singuliers
Microélectronique
Systèmes embarqués (informatique)
Semiconducteurs
Laser impulsionnel
Temps entre défaillances, Analyse des
Optique non linéaire
Diodes à barrière de Schottky
Ions lourds
Effet des radiations
Analyse de circuits intégrés