Danièle Fournier
Mots clés
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Contrôle non destructif
Imagerie
Opto-acoustique
Photo-thermo-acoustique
Membrane de silicium
Résonance
Efficacité
Facteur de qualité
Durée de vie de porteurs
Semiconducteurs
Microcapteurs
Thermographie lockin
Rayonnement infrarouge
Structures avioniques
Contrôle non-destructif
Composites
Thermographie
Microscopie optique plein champ
Spectroscopie
Nanoparticules métalliques