Guy Salace
IdRefMots clés
FR
Sciences appliquees
Semiconducteurs -- Défauts
Effet tunnel
Composants électroniques
MOS (électronique)
Spectroscopie tunnel
Silice
Oxydes
Electronique
Structure mim
Structure mos
Aluminium fluorure
Etat electronique surface
Contact isolant semiconducteur
Silicium oxyde
Silicium
Spectrometrie tunnel
Conductance electrique
Capacite electrique
Mim structure