Marise Bafleur
Mots clés
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Circuits intégrés
MOS complémentaires
Décharges électriques
Analyse de défaillance
Décharges électrostatiques
Transistors bipolaires
Robustesse
Protection
Composants électroniques
Récupération d’énergie
Simulation
Esd
Thyristors
Electronique
Circuit integre
Integrated circuit
Décharges électrostatiques (ESD)
Stimulation laser
Électrostatique
MOS (électronique)