Marise Bafleur
Mots clés
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Circuits intégrés
MOS complémentaires
Décharges électriques
Analyse de défaillance
Décharges électrostatiques
Transistors bipolaires
Protection
Robustesse
Fiabilité
Simulation par ordinateur
Composants électroniques
Récupération d’énergie
Analyse des Temps entre défaillances
Simulation
Esd
Thyristors
Electronique
Circuit integre
Integrated circuit
Décharges électrostatiques (ESD)