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des thèses françaises
Didier Stiévenard
IdRefMots clés
FR
Silicium
Microscopie tunnel à balayage
Propriétés électriques
Microscopie à force atomique
Semiconducteurs
Arséniure de gallium
Spectroscopie tunnel
Nanostructures
Nitrure de silicium
Nanofils
Technologie silicium sur isolant
Lithographie par faisceau d'électrons
Semiconducteurs -- Dopage
Défauts
Cristaux -- Défauts
Germanium -- Alliages
Faisceaux électroniques
Transistors à effet de champ
Diodes à barrière de Schottky
Défauts ponctuels