Didier Stiévenard
Mots clés
FR
Silicium
Microscopie tunnel à balayage
Microscopie à force atomique
Semiconducteurs
Arséniure de gallium
Spectroscopie tunnel
Nanostructures
Nitrure de silicium
Nanofils
Technologie silicium sur isolant
Lithographie par faisceau d'électrons
Semiconducteurs -- Dopage
Cristaux -- Défauts
Germanium -- Alliages
Faisceaux électroniques
Transistors à effet de champ
Diodes à barrière de Schottky
Défauts ponctuels
Biocapteurs
Microélectrodes