Événements singuliers induits par les électrons dans les technologies intégrés

par Pablo Caron

Projet de thèse en MicroNano Systèmes

Sous la direction de Christophe Inguimbert et de Laurent Artola.

Thèses en préparation à Toulouse, ISAE , dans le cadre de École doctorale Génie électrique, électronique et télécommunications (Toulouse) , en partenariat avec ISAE-ONERA OLIMPES Optronique, Laser, Imagerie Physique et Environnement Spatial (laboratoire) depuis le 03-10-2016 .


  • Résumé

    Les dispositifs électroniques embarqués sont particulièrement vulnérables aux effets des radiations de l'environnement spatial, qui peuvent, lorsque les particules traversent les zones sensibles des composants et produire un niveau d'ionisation suffisant, déclencher des erreurs logiques (SET ou SEU). Historiquement les ions lourds et les protons ont été les premières particules avec lesquelles ce genre de phénomènes ont été observés. Il a été démontré qu'avec l'intégration croissante des technologies et la réduction des tensions d'alimentation, les dispositifs électroniques devenaient sensibles au passage de particules de plus en plus "légère" tels que les électrons, ayant une capacité à produire des charges dans la matière de plus en plus faible. Le but de la thèse est d'étudier en détail les mécanismes de déclenchement des erreurs logiques d'un point de vue expérimental et numérique. Le travail visera dans un premier temps, à identifier au cours d'une étude "bibliographique", les composants les plus sensibles du marché (16 nm, 20 nm, 28 nm, 45 nm) susceptibles de déclencher des erreurs. D'autre part une revue des mécanismes physiques potentiellement à l'origine des erreurs sera conduit en se focalisant sur les interactions coulombiennes élastiques et électro-nucléaires.

  • Titre traduit

    Single events induced by electrons in integrated technologies


  • Résumé

    On-board electronic devices are vulnerable to the effects of space environment radiation which can cause logical errors when particle pass through the sensitive regions of the components and produce a sufficient ionization level. Historically heavy ions and protons were the first particles with these phenomena were observed. It has been demonstrated that with the increasing integration of technologies and the reduction of supply voltages, electronic devices become sensitive to the passage of "light" particles such as electrons. The aim of this work is to study in detail the mechanisms of triggering locical errors from an experimental and numerical point of view.