Design d'Architectures Tolérante aux Fautes Basées sur des Structures Approximées

par Bastien Deveautour

Projet de thèse en SYAM - Systèmes Automatiques et Micro-Électroniques

Sous la direction de Arnaud Virazel et de Patrick Girard.

Thèses en préparation à Montpellier , dans le cadre de I2S - Information, Structures, Systèmes , en partenariat avec Laboratoire d'informatique, de robotique et de micro-électronique (Montpellier ; 199.-....) (laboratoire) et de Département Microélectronique (equipe de recherche) depuis le 03-07-2017 .


  • Résumé

    L'implémentation de systèmes complexes fiables et économiques est un défi grandissant au vu de la miniaturisation et des problèmes qu'elle engendre. Dans cette thèse, nous visons à renforcer la fiabilité dans des systèmes de stockage, calculs et communications en leur assurant un longévité augmentée face au vieillissement et autres altérations tout en offrant un coût réduit en termes de surface et puissance consommée additionnelles. Les solutions recherchées viseront à assurer, dans un premier temps, la détection d'erreurs, puis dans un deuxième temps nous proposerons des solutions permettant de corriger ces erreurs sans altérer le fonctionnement du système implémenté.

  • Titre traduit

    Fault Tolerant Architectures Design Based on Approximate Structures


  • Résumé

    The implementation of highly integrated complex systems with economically acceptable yield and reliability is a very challenging endeavour. Here, we target the reliability of storage, computing and communication operations in such systems against aging and any other environmental drifts. Low-cost and scalable solutions like low overhead and accurate robust reliability test instruments to detect reliability related failures at manufacturing testing that can also be accessed via industrial communication standards. One of the main constraints will be to keep the area and energy overhead as low as possible. A global objective is to reach the best trade-off between the cost of the proposed solutions and the resulting reliability improvement.