Adhérence d'une interface structurée polymère / silicium pour l'encapsulation par transfert de film : caractérisation expérimentale et modélisation
Auteur / Autrice : | Coraly Cuminatto |
Direction : | Muriel Braccini |
Type : | Thèse de doctorat |
Discipline(s) : | Génie civil |
Date : | Soutenance le 13/12/2012 |
Etablissement(s) : | Grenoble |
Ecole(s) doctorale(s) : | École doctorale Ingénierie - matériaux mécanique énergétique environnement procédés production (Grenoble ; 2008-....) |
Partenaire(s) de recherche : | Equipe de recherche : Sciences et Ingénieurie des Matériaux et des Procédés |
Jury : | Président / Présidente : Christophe Derail |
Examinateurs / Examinatrices : Muriel Braccini, Rafael Estevez, Fabien Parrain, Guillaume Parry, Patrick Mc garry | |
Rapporteurs / Rapporteuses : Etienne Barthel, Dominique Leguillon |
Mots clés
Mots clés libres
Résumé
En microélectronique, certains dispositifs (MEMS) nécessitent une couche de protection appelée encapsulation pour assurer un fonctionnement optimal. Ce procédé met en jeu une couche structurée de polymère BCB (benzocyclobutène). Celle-ci est en contact avec unsubstrat de silicium d’un côté et une couche de nickel de l’autre. Une compréhension du comportement de ces interfaces et primordiale. L’objectif de cette thèse est la caractérisation de l’énergie d’adhérence des interfaces discontinues Ni/BCB et BCB/Si. Deux essaismécaniques (test de flexion 4-points et insertion de lame) ont été mis en œuvre. Les modèles analytiques mis au point dans le cas d’une interface continue ont servi à l’exploitation de ces essais mais ont aussi montré leur limite. La structuration de l’interface induit des effets géométriques et des effets d’échelle qui ne sont pas bien pris en compte par les modèles classiques. Pour pallier à cette difficulté, un modèle analytique modifié est proposé pour le test d’insertion de lame, ainsi que des calculs de simulation numérique. Ils mettent en avant l’influence des paramètres de la structuration : taille des motifs, espacement.