Thèse soutenue

Champs de Markov cachés pour les problèmes inverses : application à la fusion de données et à la reconstruction d'images en tomographie micro-onde

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Auteur / Autrice : Olivier Féron
Direction : Ali Asghar Mohammad DjafariBernard Duchêne
Type : Thèse de doctorat
Discipline(s) : Sciences appliquées
Date : Soutenance en 2006
Etablissement(s) : Paris 11
Partenaire(s) de recherche : autre partenaire : Université de Paris-Sud. Faculté des sciences d'Orsay (Essonne)

Mots clés

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Mots clés libres

Résumé

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Le sujet de cette thèse porte sur une approche bayésienne pour la résolution de problèmes inverses de reconstruction d'images. Mon travail s'est axé sur deux applications : la fusion d'images pour le contrôle et la surveillance et la reconstruction d'images en tomographie micro-onde. Dans les deux cas mon travail s'est focalisé sur la modélisation et l'estimation de la classe particulière des images homogènes par morceau. Mes contributions portent essentiellement sur la modélisation de cette information a priori. Le caractère homogène par morceau de l'image inconnue est modélisé par champ de Markov caché, les pixels appartenant à une même région étant alors représentés par une variable discrète (une étiquette) et des propriétés statistiques communes. Bien que cette modélisation soit relativement courante pour des problèmes de segmentation d'image, son utilisation pour la résolution des problèmes inverses est plus complexe, les données n'étant pas directement des images. Le choix approprié de ces modèles pour les problèmes inverses constitue une partie importante de ce travail. Pour tous les problèmes inverses traités, je propose de calculer la moyenne a posteriori des inconnues. Dans chaque cas, les lois conditionnelles, nécessaires à l'implémentation d'un d'échantillonneur de Gibbs approprié, sont alors déterminées. La mise en oeuvre de ces calculs est simple pour le problème de fusion d'images, mais nécessite plus de précautions dans le cas des problèmes inverses en tomographie micro-onde, pour le modèle linéaire d'une part, mais surtout pour les modèles non linéaires.