Influence des régimes extrêmes de fonctionnement sur la durée de vie de composants à semiconducteurs de puissance
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Auteur / Autrice : | Frédéric Saint-Eve |
Direction : | François Costa |
Type : | Thèse de doctorat |
Discipline(s) : | Électronique, électrotechnique, automatique |
Date : | Soutenance en 2004 |
Etablissement(s) : | Cachan, Ecole normale supérieure |
Mots clés
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Mots clés contrôlés
Résumé
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Les travaux de cette thèse s'inscrivent dans le cadre de la fiabilité des composants semiconducteurs de puissance soumis à des cycles répétitifs de régimes extrêmes de fonctionnement (court circuit et avalanche), à différentes énergies et températures de boîtier. Une importante campagne de tests a été menée et a permis de mettre en évidence expérimentalement la présence systématique d'une Energie Critique en dessous de laquelle les transistors sont capables de supporter un très grand nombre de cycles contraignants. Plusieurs modes de défaillances ont été relevés, et une simulation électrothermique 1 D a permis d'apporter quelques explications sur cette Energie Critique et sur l'origine de ces défaillances.