Techniques de BIST pour test analogique et mixte

• Auteur / Autrice : Jaime Velasco-Medina
• Direction : Michael Nicolaïdis
• Type : Thèse de doctorat
• Discipline(s) : Microélectronique
• Date : Soutenance en 1999
• Etablissement(s) : Grenoble INPG

Mots clés

Mots clés libres

Sciences et techniques

Electronique

Methode mesure

Circuit integre

Circuit numerique

Circuit analogique

Amplificateur operationnel

Detection defaut

Autotest

Résumé

Le developpement des technologies de fabrication et des outils de conception de circuits integres a permis la mise en oeuvre d'applications nouvelles utilisant des signaux-mixtes analogiques/numeriques, et l'aptitude a integrer des systemes analogiques et mixtes complexes dans la meme puce croit rapidement. Donc, le test de ces circuits necessite une grande attention, particulierement sur le cout du test en production qui est un facteur proeminent dans le cout total. En outre, le test des circuits integres analogiques et mixtes est une tache tres difficile qui est devenue un domaine de recherche tres interessant dans les dernieres annees. Le but principal de cette these est porte sur le developpement de deux techniques nouvelles d'auto-test integre (bist) pour le test des parties analogiques integrees dans les circuits mixtes, qui facilitent la generation du signal de test et l'observation du signal de sortie, augmentent la qualite et la fiabilite des circuits, et reduisent le cout de test. Le premier objectif est d'ameliorer le probleme de generation du signal de test, qui est accompli en considerant des courants comme des signaux de test. En utilisant cette approche, nous repondons aux exigences suivantes : a) une grande controlabilite de l'application des signaux de test, car ils peuvent etre appliques individuellement ou simultanement, b) l'application de tels signaux de test ne requiert plus l'utilisation de commutateurs, ce qui diminue les degradations des performances introduites par le circuit de test, et c) une grande observabilite de la reponse de test est accomplie, ce qui minimise la probabilite de decision erronee de test, maximise le taux de couverture de defauts, et reduit le temps et le cout de test. Le deuxieme objectif poursuit l'optimisation du probleme de la mesure de la reponse de test, ce qui est aborde par l'utilisation des circuits de traitement de courant afin d'analyser la reponse de test. Cela represente certains avantages considerables par rapport aux techniques classiques. En outre, l'impact du circuit de test sur les performances du circuit teste est negligeable. Le troisieme objectif vise l'augmentation de l'observabilite des blocs analogiques dans les circuits mixtes, ce qui a ete accompli en utilisant des signaux ac/dc de test a partir de detecteurs integres. Les signaux ac de test permettent la detection des erreurs pendant l'operation des amplificateurs operationnels haute-frequence. Les signaux dc de test permettent de detecter les fautes qui sont difficiles a detecter lorsqu'on utilise les signaux de test sinusoidaux de tension. Enfin, nous proposons l'integration des techniques nouvelles de bist dans un environnement de cao, en utilisant les langages haut-niveau de description comportementale analogique.