Nouvelles perspectives avec la reflectivite des rayons x pour les films minces, les films noirs et les membranes

New prospects given by x-ray reflectivity for thin films, black films and membranes

• Auteur / Autrice : AUDE SCHALCHLI
• Direction : Dominique Langevin
• Type : Thèse de doctorat
• Discipline(s) : Physique - Chimie
• Date : Soutenance en 1994
• Etablissement(s) : Paris 6

Résumé

Nous avons utilise la reflectivite des rayons x pour etudier differents problemes physiques relatifs aux films ultra minces. A travers l'etude de films de silice deposes sur du germanium, nous avons aborde le probleme de la mesure precise des densites. Nous avons mis au point une methode utilisant la reflexion totale du faisceau sur le substrat, permettant de determiner a 0,7% pres la densite de films minces. Nous avons etudie egalement des cyclodextrines deposees en monocouche de langmuir-blodgett. Cette etude a montre l'importance de la symetrie moleculaire sur l'organisation planaire de la monocouche. La partie la plus importante de la these est consacree a l'etude des films noirs de molecules amphiphiles. Nous montrons que la structure du film de newton presente des caracteristiques generales (absence d'eau liquide) qui sont observees pour des tensioactifs tres differents. Le film noir est un systeme modele pour l'etude des interactions a courte portee. A l'aide de ce systeme modele forme de deux parois amphiphiles en regard, nous avons pu verifier les predictions theoriques de pincus sur le comportement des brosses polyelectrolytiques. Dans une derniere partie, nous donnons les bases d'une methode permettant la mesure simultanee des interactions et de la structure des films noirs. Nous prouvons sa faisabilite en presentant les premiers resultats obtenus avec un tensioactif non ionique