Contribution à l'étude des interfaces et défauts de croissance dans les couches minces et multicouches supraconductrices à haute température critique

Contribution to the study of interfaces and growth defects in high t#c superconducting thin films and multilayers

• Auteur / Autrice : Abdelhadi Alimoussa
• Direction : Marie-José Casanove
• Type : Thèse de doctorat
• Discipline(s) : Physique des solides
• Date : Soutenance en 1992
• Etablissement(s) : Toulouse 3

Mots clés

Mots clés contrôlés

Couches minces

Supraconducteurs

Interfaces (sciences physiques)

Couches minces supraconductrices

Résumé

Ce travail concerne l'etude microstructurale de films minces supraconducteurs a haute temperature critique. Les techniques utilisees pour cette etude sont principalement la microscopie electronique en transmission conventionnelle et en haute resolution. Divers points se sont rapidement reveles essentiels dans l'elaboration de couches minces de hautes performances, en particulier le choix du substrat et conditions de depots liees a la technique utilisee, mais tous convergent vers une meme necessite: la maitrise de la croissance de la couche. La caracterisation de l'interface film-substrat ou des interfaces entre differentes couches dans le cas de depots multicouches s'est alors averee essentielle. Notre etude a porte sur des films minces supraconducteurs a compose unique ainsi que sur des films multicouches a deux composes. Dans les films deposes sur un substrat de zro#2, nous rapportons la presence d'une couche intermediaire a l'interface film-substrat. Cette couche, de composition bazro#3, deteriore sensiblement les qualites electriques et cristallines du film supraconducteur en creant des phases parasites non supraconductrices. Le substrat srtio#3 favorise par contre une croissance epitaxiale de la couche. L'etude de films multicouches a base de yba#2cu3o#7#-# et la#2#-#xsr#xcuo#4 a mis en evidence des differences de rugosite d'interface suivant la sequence d'empilement. Ce resultat a ete interprete au travers de l'examen de la croissance de couches simples de la#2#-#xsr#xcuo#4. Des observations en microscopie en haute resolution ont par ailleurs permis de montrer que tous ces interfaces demeuraient abrupts. Nous proposons egalement des modeles d'interfaces realises au moyen de simulations numeriques d'images