Analyse de signature et test en ligne intégré sur silicium

Signature analysis and integrated on-line test

• Auteur / Autrice : Régis Leveugle
• Direction : Gabrièle Saucier
• Type : Thèse de doctorat
• Discipline(s) : Microélectronique
• Date : Soutenance en 1990
• Etablissement(s) : Grenoble INPG

Mots clés

Mots clés libres

Sciences appliquees

Electronique

Test en ligne integre

Analyse de signature

Circuits vlsi

Verification du flot de controle

Test en ligne de sequenceurs

Conception de microprocesseurs

Résumé

Cette these propose des methodes de conception pour introduire des capacites de test en ligne dans des circuits integres sur silicium. La methode de test en ligne utilisee consiste a verifier un flot de controle par detection des chemins illegaux. Cette methode est appliquee a plusieurs niveaux d'abstraction, a savoir la verification du bon deroulement d'un programme d'application sur un systeme a base de microprocesseur, et la verification du bon fonctionnement du sequenceur interne d'un circuit. Pour faciliter ces verifications, deux techniques sont utilisees: la compaction par division polynomiale des donnees a verifier (respectivement, les codes des instructions du programme et les codes des etats du sequenceur) et l'insertion de proprietes invariantes sur la signature ainsi obtenue (la signature des donnees a verifier est, en chaque point de l'organigramme de controle, independante des chemins prealablement parcourus). L'implantation sur silicium de circuits complets a demontre que ces techniques de test en ligne entrainent un tres faible accroissement de la surface (5 a 10% en moyenne) et pratiquement aucune degradation des performances. Ce resultat est du a la prise en compte de la testabilite en ligne a un stade precoce de la conception. Les etudes de cas concernent une famille de microprocesseurs (16 a 32 bits) et un ensemble de sequenceurs concus selon ces methodes