Geneviève Grenet
IdRefMots clés
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XPS
Épitaxie
Photoémission
HAXPES (Spectroscopie de photoémission utilisant des rayons X durs)
Analyse du fond continu inélastique
Interfaces profondément enterrées
HAXPEEM (Microscopie de photoémission utilisant des rayons X durs)
Analyse de Tougaard du fond inélastique
HEMT (transistor à haute mobilité électronique)
Spectroscopie de photoélectrons
Hétéroépitaxie
Interfaces
Nanofils
Silicium
Phase Zintl
Semiconducteur III-V
Épitaxie par faisceaux moléculaires
Compliance
Collage moléculaire
Faisceaux moléculaires