Brice Gautier
Brice Gautier a rédigé la thèse suivante :
Etude de la résolution en profondeur lors de l'analyse par spectrométrie de masse des ions secondaires : détermination de la fonction de résolution pour le bore dans le silicium, mise au point d'une procédure de déconvolution et applications
par Brice Gautier sous la direction de Jean-Claude Dupuy - Lyon, INSA
Dispositifs de l'Electronique Intégrée
Soutenue en 1997
Brice Gautier a dirigé les 10 thèses suivantes :
Etude des propriétés électriques et mécaniques de nanofils de GaAs : vers une modulation du transport par effet piézoélectrique ou ferroélectrique
par Jeanne Becdelievre sous la direction de Guillaume Saint-Girons , José Penuelas et de Brice Gautier . - Lyon
Physique des matériaux
Soutenue le 09-11-2017
Caractérisation électrique multi-échelle d'oxydes minces ferroélectriques
par Simon Martin sous la direction de Brice Gautier - Lyon
Electronique, micro et nanoélectronique
Soutenue le 12-12-2016
Etude de la fiabilité des mesures électriques par la microscopie à force atomique sur couches diélectriques ultra-minces : Développement d'une technique de pompage de charge résolue spatialement pour la caractérisation des défauts d'interface
par Antonin Grandfond sous la direction de Brice Gautier et de Liviu-Laurentiu Militaru . - Lyon, INSA
Eléctronique
Soutenue le 16-12-2014
Auto-assemblage générique de nanofils de silicium dans une matrice d'alumine nanoporeuse assisté par nanoimpression
par Thérèse Gorisse sous la direction de Denis Buttard , Marc Zelsmann et de Brice Gautier . - Grenoble
Nanophysique
Soutenue le 28-03-2014
Contribution à la compréhension du contraste lors de la caractérisation à l'échelle nanométrique des couches minces ferroélectriques par Piezoresponse Force Microscopy
par Alexis Borowiak sous la direction de Brice Gautier et de Nicolas Baboux . - Lyon, INSA
Micro et nanotechnologies
Soutenue le 20-12-2013
Caractérisation des courants de fuite à l'échelle nanométrique dans les couches ultra-minces d'oxydes pour la microélectronique
par Wael Hourani sous la direction de Brice Gautier et de Liviu Militaru . - Lyon, INSA
Dispositifs de l'Electronique Intégrée
Soutenue le 09-11-2011
Cinétique de formation et stabilité des domaines ferroélectriques créés par un Microscope à Force Atomique : étude de films minces monocristallins de LiTaO3 en vue d'applications mémoires
par Antoine Brugère sous la direction de Brice Gautier - Lyon, INSA
Physique
Soutenue le 14-01-2011
Transfert de couches minces de LiTaO3 et de LiNbO3 par la technologie Smart Cut
par Jean-Sébastien Moulet sous la direction de Brice Gautier - Lyon, INSA
Micro et nanotechnologies
Soutenue en 2010
Reliability of the Scanning Capacitance Microscopy and Spectroscopy for the nanoscale characterization of semiconductors and dielectrics
par Octavian Ligor sous la direction de Brice Gautier - Lyon, INSA
Dispositifs de lélectronique intégrée
Soutenue en 2010
Etude et caractérisation du matériau CuAI1% utilisé en tant que couche de germination pour améliorer les performances de fiabilité des interconnexions des technologies 45 nm et ultérieures
par Thomas Vanypre sous la direction de Jean-Claude Dupuy et de Brice Gautier . - Lyon, INSA
Dispositifs de lélectronique intégrée
Soutenue en 2008
Brice Gautier a été président de jury des 5 thèses suivantes :
Etude des mécanismes affectant la fiabilité des oxydes enterrés ultra-minces et des dispositifs avancés en technologie FDSOI
par Guillaume Besnard sous la direction de Sorin Cristoloveanu , Xavier Garros et de Frédéric Allibert . - Grenoble Alpes
Nanoélectronique et nanotechnologie
Soutenue le 03-06-2016
Modeling and characterization of electrical effects of Ge integration in Metal/High-k/SiGe MOS structures
par Assawer Soussou sous la direction de Gérard Ghibaudo , Denis Rideau et de Charles Leroux . - Grenoble
Nanoélectronique et nanotechnologie
Soutenue le 03-04-2014
Intégration et caractérisation électrique d'éléments de mémorisation à commutation de résistance de type back-end à base d'oxydes métalliques.
par Sauveur Tirano sous la direction de Christophe Muller et de Damien Deleruyelle . - Aix-Marseille
Micro et Nanoélectronique
Soutenue le 13-05-2013
Placement déterministe de dopants pour dispositifs ultimes
par Laurent Mathey sous la direction de Christophe Copéret - Lyon 1
Chimie
Soutenue le 05-11-2012
Elaboration et caractérisation des grilles métalliques pour les technologiesCMOS 32 / 28 nm à base de diélectrique haute permittivité
par Sylvain Baudot sous la direction de Gérard Ghibaudo - Grenoble
Nano électronique et nano technologies
Soutenue le 26-10-2012
Brice Gautier a été rapporteur des 19 thèses suivantes :
Spectroscopie d'impédance non linéaire appliquée aux matériaux et systèmes thermoélectriques
par Etienne Thiebaut sous la direction de Philippe Lecoeur - Paris Saclay
Electronique et Optoélectronique, Nano- et Microtechnologies
Soutenue le 16-04-2019
Impact of 14/28nm FDSOI high-k metal gate stack processes on reliability and electrostatic control through combined electrical and physicochemical characterization techniques
par Pushpendra Kumar sous la direction de Gérard Ghibaudo et de Charles Leroux . - Grenoble Alpes
Nano electronique et nano technologies
Soutenue le 19-12-2018
Etude de procédés plasmas pour le retrait de résine implantée pour les filières CMOS et photonique
par Marion Croisy sous la direction de Nicolas Possémé et de Erwine Pargon . - Grenoble Alpes
Nano electronique et nano technologies
Soutenue le 14-12-2017
Optimization of physical chemistry of the Pt/Ru/PbZrTiO3 interface for future high capacitance density devices
par Ibrahima Gueye sous la direction de Nicholas Barrett et de Emmanuel Defaÿ . - Grenoble Alpes
Nano electronique et nano technologies
Soutenue le 13-11-2017
Films minces et dispositifs à base de LixCoO₂ pour application potentielle aux mémoires résistives non volatiles
par Van-Son Nguyen sous la direction de Olivier Schneegans et de Philippe Lecoeur . - Paris Saclay
Electronique et Optoélectronique, Nano- et Microtechnologies
Soutenue le 20-10-2017
Fabrication et caractérisation de transistors MOS à base de nanofils de silicium empilés et à grille enrobante réalisés par approche Gate-Last pour les noeuds technologiques sub-7 nm.
par Loic Gaben sous la direction de Francis Balestra et de Thomas Skotnicki . - Grenoble Alpes
Nano electronique et nano technologies
Soutenue le 19-10-2017
Caractérisation et modélisation de UTBB MOSFET sur SOI pour les technologies CMOS avancées et applications en simulations circuits
par Theano Karatsori sous la direction de Gérard Ghibaudo - Grenoble Alpes
Nano electronique et nano technologies
Soutenue le 12-07-2017
Etude de la fiabilité de type negative bias temperature instability (NBTI) et par porteurs chauds (HC) dans les filières CMOS 28nm et 14nm FDSOI
par Cheikh Ndiaye sous la direction de Alain Bravaix - Aix-Marseille
Sciences pour l'ingénieur: mécanique, physique, micro et nanoélectronique
Soutenue le 07-07-2017
Croissance de couches minces et de nanostructures piézoélectriques A2WO6 (A=lanthanide) par ablation laser et caractérisation nanométrique par microscopie à force atomique
par Thomas Carlier sous la direction de Rachel Desfeux - Artois
Molécules et matière condensée
Soutenue le 09-12-2016
Caractérisation et modélisation du phénomène de claquage dans les oxydes de grille à forte permittivité, en vue d’améliorer la durée de vie des circuits issus des technologies 28nm et au-delà
par Anas Bezza sous la direction de Gérard Ghibaudo - Grenoble Alpes
Nano electronique et nano technologies
Soutenue le 26-10-2016
Electrical and physicochemical characterization of metal gate processes for work function modulation and reduction of local VTH variability in 14FDSOI technologies
par Carlos Augusto Suarez Segovia sous la direction de Gérard Ghibaudo , Florian Domengie et de Charles Leroux . - Grenoble Alpes
Nanoélectronique et nanotechnologie
Soutenue le 04-02-2016
Fiabilité Porteurs Chauds (HCI) des transistors FDSOI 28nm High-K grille métal
par Wafa Arfaoui sous la direction de Alain Bravaix et de Daniela Munteanu . - Aix-Marseille
Micro et Nanoélectronique
Soutenue le 24-09-2015
Etude à l'échelle nanométrique par sonde locale de la fiabilité et de la dégradation de films minces d'oxyde pour applications MOS et MIM
par Romain Foissac sous la direction de Franck Bassani , Serge Blonkowski et de Martin Kogelschatz . - Grenoble Alpes
Nanoélectronique et nanotechnologie
Soutenue le 13-05-2015
Mesure de déformation et cristallinité à l'échelle nanométrique par diffraction électronique en mode précession
par Mathieu Pierre Vigouroux sous la direction de François Bertin et de Bernard Chenevier . - Grenoble Alpes
Nanophysique
Soutenue le 11-05-2015
Développement d’une imagerie de résistance électrique locale par AFM à pointe conductrice en mode contact intermittent
par Aymeric Vecchiola sous la direction de Frédéric Houzé - Paris 11
Physique
Soutenue le 29-04-2015
Contribution à la mise en place d’un microscope à force Atomique métrologique (mAFM) : Conception d’une tête AFM métrologique et caractérisation métrologique de l’instrument.
par Younes Boukellal sous la direction de Yannick De Wilde - Cachan, Ecole normale supérieure
Électronique, Électrotechnique et Automatique
Soutenue le 02-04-2015
Fiabilité et variabilité temporelle des technologies CMOS FDSOI 28-20nm, du transistor au circuit intégré
par Damien Angot sous la direction de Alain Bravaix - Aix-Marseille
Micro et Nanoélectronique
Soutenue le 05-12-2014
Étude de l'effet du dopage et du traitement thermique sur les propriètés optoélectroniques des couches minces d'In2S3 utilisées comme fenêtre optique dans un dispositif photovoltaïque.
par Mouna Kilani sous la direction de Alain Foucaran et de Najoua Kamoun Turki . - Montpellier 2
Electronique
Soutenue le 11-03-2013
Activation des dopants implantés dans le carbure de silicium (3C-SiC et 4H-SiC)
par Xi Song sous la direction de Daniel Alquier - Tours
Electronique
Soutenue le 13-06-2012
Brice Gautier a été membre de jury des 2 thèses suivantes :
Développement d'un procédé de structuration 3D pour le silicium
par Lamia Nouri sous la direction de Nicolas Possémé - Grenoble Alpes
Nano electronique et nano technologies
Soutenue le 11-12-2017
Etude des commutations de résistance de l'oxyde d'hafnium
par Cédric Mannequin sous la direction de Patrice Gonon - Grenoble
Physique des matériaux
Soutenue le 07-02-2014
