Michaël Texier
IdRefMots clés
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Microscopie électronique en transmission
Diffusion (physique)
Transition fragile-Ductile
Diffusion
Ségrégation dynamique
Modélisation
Sonde atomique tomographique
Spectrométrie de masse d'ions secondaires
Ségrégation (métallurgie)
Sondes atomiques tomographiques
Spectrométrie de masse des ions secondaires
Plasticité
Effet de taille
Silicium
Semiconducteurs
Quasicristaux
Deformation plastique
Dislocations
Défauts étendus
Microstructure