28FDSOI  Analyses de défaillance électrique  Analyses électromagnétiques  Brouillage électromagnétique  Capteur de tension sur puce  Caractérisation  Caractérisation de défauts  Caractérisation électrique statique et dynamique  Carbure de silicium  Carbure de silicium SiC  Circuit intégré  Circuits Smart Power  Circuits imprimés  Circuits intégrés -- Conception assistée par ordinateur  Circuits intégrés -- Simulation par ordinateur  Circuits intégrés  Circuits intégrés tridimensionnels  Commande robuste  Compatibilité Electromagnétique  Compatibilité Électromagnétique des Circuits Intégrés  Compatibilité électromagnétique  Composants passifs  Composants électroniques  Conception microélectronique  Contre-mesures électroniques  Contremesures  Convertisseur statique DC-DC  Convertisseurs électriques  Corrélation des tests DPI et BCI  Couplage substrat de puissance  Courants porteurs en ligne  Courts-circuits  Cristaux photoniques  Câbles électriques  Dispositifs électromagnétiques  Données massives  Défauts  Défauts électriques -- Localisation  Détérioration  Electronique  Essais accélérés  FPGA  Faisceaux laser  Fiabilité  Fiabilité électromagnétique  Flot de Modélisation et de Simulation  HTGB  Hacheur parallèle  Hacheur série  Hacheurs  ICEM-CE  IEC 61000-4-4  Icem  Icim  Iec-62433  Immunité  Immunité des Circuit Intégrés  Injection de porteur chauds  Injections de perturbations de types DPI et BCI  Interconnexion  Intégrité de Puissance  Intégrité de signal  Logiciel Feko  MOS complémentaires  MOSFET  Mesure dynamique sur puce  Mesures Electronique Rapide  Mesures électroniques  Microcontrôleur  Microcontrôleurs  Modélisation  Modélisation CEM  Modélisation de la dégradation  Modélisation électromagnétique  Mécanismes de couplage  Mécanismes de dégradation  Méthodes de mesure  Negative bias temperature instability  Ondes électromagnétiques  Perturbations électromagnétiques  Perturbations électromagnétiques conduites et rayonnées  Photonique  Propagation des perturbations électromagnétiques  Prédiction  Prédictions des risques de défaillances des circuits intégrés  Radiofréquences  Rayonnement électromagnétique  Robustesse  Robustesse électromagnétique  Régime de court-circuit  Réseaux électriques intelligents  Résonance  Scan en champ proche  Semiconducteurs -- Effets des rayonnements  Semiconducteurs de puissance  Signal, Théorie du  Simulation  Simulation de stress laser thermique  Simulation par ordinateur  Simulation électromagnétique  Stimulation laser  Susceptibilité  Susceptibilité magnétique  Système de mesures sur puce  Systèmes analogiques  Systèmes embarqués  Systèmes embarqués  Systèmes sur puce  Technologie CMOS  Technologie CPL  Test du vieillissement  Transistors MOSFET  Transistors de puissance  Transitoires rapides en salve  Tridimensionnelle  Télécommunications  Vhdl-ams  Vieillissement  Électronique analogique  Électronique de puissance  Émission  échantilloneur  émission parasite  

Sonia Ben Dhia a rédigé la thèse suivante :

Conception des circuits micrélectroniques et microsystèmes
Soutenue en 1998
Thèse soutenue


Sonia Ben Dhia a dirigé les 7 thèses suivantes :

Conception des Circuits Microélectroniques et Microsystèmes
Soutenue le 14-12-2011
Thèse soutenue
Conception de circuits microélectroniques et microsystèmes
Soutenue en 2007
Thèse soutenue
Conception de circuits microélectroniques et microsystèmes
Soutenue en 2005
Thèse soutenue

Sonia Ben Dhia a été président de jury des 2 thèses suivantes :


Sonia Ben Dhia a été rapporteur des 3 thèses suivantes :


Sonia Ben Dhia a été membre de jury des 3 thèses suivantes :

Génie électrique, électronique, photonique et systèmes
Soutenue le 18-01-2010
Thèse soutenue