"Auteur";"Identifiant auteur";"Titre";"Directeur de these";"Directeur de these (nom prenom)";"Identifiant directeur";"Etablissement de soutenance";"Identifiant etablissement";"Discipline";"Statut";"Date de premiere inscription en doctorat";"Date de soutenance";"Langue de la these";"Identifiant de la these";"Accessible en ligne";"Publication dans theses.fr";"Mise a jour dans theses.fr"; Emmanuel Antczak;069793077;Identification par impédance thermique : application à la caractérisation des géomatériaux;Bruno Duthoit;Duthoit Bruno;069565597;Artois;034634894;Sciences pour l'ingénieur. Génie civil;soutenue;;01-01-1996;fr;1996ARTO0001;non;30-08-2017;10-07-2020; Sougrati Belattar;131190024;Notion d'impédance thermique appliquée à la caractérisation et au contrôle non destructif des systèmes;Pierre Thery,Bruno Duthoit;Thery Pierre,Duthoit Bruno;111939593,131390791;Lille 1;026404184;Sciences physiques;soutenue;;01-01-1992;fr;1992LIL10132;non;07-05-2015;06-03-2020; Jibao Shen;076679063;Notion d'impédance thermique appliquée au contrôle non destructif des matériaux;Bruno Duthoit;Duthoit Bruno;069565597;Artois;034634894;Génie civil;soutenue;;01-01-2003;fr;2003ARTO0201;non;24-05-2013;09-02-2021; Lei Qiu;159171997;Caractérisation d'un système par impédance thermique : application à la détection de défauts résistifs dans une structure en béton;Emmanuel Antczak;Antczak Emmanuel;069793077;Artois;034634894;Génie Civil;soutenue;;17-06-2011;fr;2011ARTO0208;non;19-07-2012;19-07-2012; Mohamed Elaoami;095004009;Etude expérimentale de l'évolution des propriétés thermophysiques d'un mortier par impédance thermique : correlation avecle contenu hydrique;Didier Defer;Defer Didier;095004114;Artois;034634894;Science pour l'ingénieur. Génie civil;soutenue;;01-01-2005;fr;2005ARTO0204;non;24-05-2013;15-07-2020; Antonio Augusto Lisboa de Souza;129757950;Caractérisation expérimentale et modélisation cyclostationnaire des sources de bruit BF dans les composants semiconducteurs pour la CAO des circuits MMIC non linéaires;Juan Obregon,Michel Prigent;Obregon Juan,Prigent Michel;057939675,068644604;Limoges;026403315;Electronique des hautes fréquences et optoélectronique;soutenue;;01-01-2008;fr;2008LIMO4014;oui;24-05-2013;01-05-2019; Guillaume Callet;163559139;Caractérisation et modélisation de transistors HEMT AlGaN/GaN et InAlN/GaN pour l’amplification de puissance en radio-fréquences;Raymond Quéré,Jean-Pierre Teyssier;Quéré Raymond,Teyssier Jean-Pierre;061755648,104690747;Limoges;026403315;Electronique des hautes fréquences, photonique et systèmes;soutenue;;01-01-2011;fr;2011LIMO4033;oui;24-05-2013;15-07-2020; Tingting Vogt Wu (Wu);158775759;Formalisme des impédances thermiques généralisées : application à la caractérisation thermique de parois de bâtiments;Didier Defer;Defer Didier;095004114;Artois;034634894;Génie Civil;soutenue;;17-06-2011;fr;2011ARTO0207;oui;16-10-2013;01-03-2018; Do phuong uyen Tran;;Méthodes calorimétriques dynamiques pour l’estimation des pertes dans les composants semi-conducteurs de puissance;Yvan Avenas,Stephane Lefebvre;Avenas Yvan,Lefebvre Stephane;071213465,081673795;Université Grenoble Alpes;240648315;Genie electrique;enCours;01-10-2017;;;s184748;non;07-07-2020;04-01-2021; Mustafa Avcu;18454789X;Caractérisation des effets parasites dans les HEMTs GaN : développement d'un banc de mesure 3ω;Jean-Pierre Teyssier,Raphaël Sommet;Teyssier Jean-Pierre,Sommet Raphaël;104690747,088662799;Limoges;026403315;Electronique des Hautes Fréquences, Photonique et Systèmes;soutenue;;17-11-2014;fr;2014LIMO0048;oui;29-10-2013;17-05-2018; Mounir Chbiki;183431340;Caractérisation thermomécanique des lignes de transmission et des collecteurs dans les tubes à ondes progressives;Najib Laraqi;Laraqi Najib;032792301;Paris 10;026403587;Sciences de l'ingénieur;soutenue;;10-12-2014;fr;2014PA100168;oui;26-09-2011;04-05-2018; Didier Defer;095004114;Théorie du signal appliquée à la caractérisation thermique et au contrôle non destructif des ouvrages in situ sous sollicitations aléatoires;Pierre Thery;Thery Pierre;111939593;Lille 1;026404184;Sciences pour l'ingénieur;soutenue;;01-01-1994;fr;1994LIL10147;non;24-05-2013;08-02-2021; Ludi Zhang;161796125;Etude de fiabilité des modules d'électronique de puissance à base de composant SiC pour applications hautes températures;Eric Woirgard,Alexandrine Guédon-Gracia;Woirgard Eric,Guédon-Gracia Alexandrine;120418266,091970490;Bordeaux 1;027548341;Electronique;soutenue;;17-01-2012;fr;2012BOR14478;non;18-06-2012;31-01-2018; Benoît Thollin;169374769;Outils et méthodologies de caractérisation électrothermique pour l'analyse des technologies d'interconnexion de l'électronique de puissance;Jean-Christophe Crebier,Zoubir Khatir;Crebier Jean-Christophe,Khatir Zoubir;102300275,033890439;Grenoble;030327202;Sciences et technologie industrielles;soutenue;;04-04-2013;fr;2013GRENT005;oui;22-05-2013;26-05-2020; Hamza Najjari;228324750;Power Amplifier Design Based on Electro-Thermal Considerations;Jean-Baptiste Begueret,Olivier Tesson,Christophe Cordier;Begueret Jean-Baptiste,Tesson Olivier,Cordier Christophe;117735418,225332582,060830042;Bordeaux;175206562;Electronique;soutenue;;20-12-2019;en;2019BORD0422;non;13-01-2020;12-11-2020; Amit Kumar Sahoo;162770790;Electro-thermal Characterizations, Compact Modeling and TCAD based Device Simulations of advanced SiGe : C BiCMOS HBTs and of nanometric CMOS FET;Nathalie Malbert,Sébastien Frégonèse;Malbert Nathalie,Frégonèse Sébastien;11108668X,097656631;Bordeaux 1;027548341;Electronique;soutenue;;13-07-2012;en;2012BOR14557;oui;26-07-2012;31-01-2018; Mario Weisz;176462929;Electrothermal device-to-circuit interactions for half THz SiGe∶C HBT technologies;Cristell Maneux,Thomas Zimmer;Maneux Cristell,Zimmer Thomas;135213584,076632598;Bordeaux 1;027548341;Electronique;soutenue;;25-11-2013;en;2013BOR14909;oui;24-02-2014;11-06-2020; Elisabeth Delacre;069629978;Caractérisation thermique de matériaux poreux humides par analyse inverse dans le domaine fréquentiel;Bruno Duthoit;Duthoit Bruno;069565597;Artois;034634894;Sciences pour l'ingénieur. Génie civil;soutenue;;01-01-2000;fr;2000ARTO0203;non;21-03-2017;15-07-2020; Chadi Jarkass;110290003;Identification thermique de systèmes évolutifs par la théorie des modèles d'ordres non entiers associée à la notion d'impédance;Bruno Duthoit;Duthoit Bruno;069565597;Artois;034634894;Sciences pour l'ingénieur. Génie civil;soutenue;;01-01-2006;fr;2006ARTO0202;non;24-05-2013;12-07-2020; Rosario D'Esposito;196078695;Electro-thermal characterization, TCAD simulations and compact modeling of advanced SiGe HBTs at device and circuit level;Thomas Zimmer,Sébastien Frégonèse;Zimmer Thomas,Frégonèse Sébastien;076632598,097656631;Bordeaux;175206562;Electronique;soutenue;;29-09-2016;en;2016BORD0147;oui;19-03-2015;31-01-2018; Adel Amimi;231298595;Modèle électro-thermique unidimensionnel du transistor bipolaire à grille isolée (IGBT) pour la simulation de circuits de puissance;Rachid Bouchakour;Bouchakour Rachid;08502659X;Rouen;026403919;Sciences appliquées;soutenue;;01-01-1997;fr;1997ROUES033;non;24-05-2013;05-02-2020; Stéphane Rael;070518513;Méthodologie de conception des modules de puissance : étude électrothermique de l'association parallèle;Robert Perret;Perret Robert;030487609;Grenoble INPG;026388804;Génie électrique;soutenue;;01-01-1996;fr;1996INPG0063;oui;24-05-2013;09-09-2020; Soumya Panda (Soumya Ranjan);;Contribution à la caractérisation sous pointes sub-THz de transistors bipolaires à hétéojonction;Thomas Zimmer,Anjan Anjan Chakravorty;Zimmer Thomas,Anjan Chakravorty Anjan;076632598,;Bordeaux;175206562;Electronique;enCours;11-09-2018;;;s207874;non;11-09-2018;04-02-2021; Sébastien Vintrou;145309231;Contribution à l'étude du comportement thermique des composants électroniques;Najib Laraqi;Laraqi Najib;032792301;Paris 10;026403587;Energétique, génie des procédés;soutenue;;08-12-2009;fr;2009PA100175;oui;13-07-2011;04-05-2018; Messaoud Khelif;112328555;Contribution à l'étude et la prédiction des défauts de vieillissement par fatigue thermique des composants électroniques de puissance;Gérard Rojat;Rojat Gérard;070488894;Ecully, Ecole centrale de Lyon;033894221;Electrotechnique;soutenue;;01-01-1994;fr;1994ECDL0051;non;24-05-2013;16-07-2020; Abdelkader El Rafei;163544336;Analyse des effets dispersifs dans les transistors radiofréquences par mesures électriques;Raymond Quéré;Quéré Raymond;061755648;Limoges;026403315;Electronique des hautes fréquences, photonique et systèmes;soutenue;;01-01-2011;en;2011LIMO4037;oui;23-06-2017;16-07-2020; Sabrine Moumen;161700462;Etude de la robustesse de transistors JFET à base de SiC vis-à-vis de stress électriques;Stéphane Lefebvre,Zoubir Khatir;Lefebvre Stéphane,Khatir Zoubir;081673795,033890439;Cachan, Ecole normale supérieure;028237080;Electronique Electrotechnique Automatique;soutenue;;28-03-2012;fr;2012DENS0015;oui;24-10-2012;10-06-2020; Jean-Pierre Ousten;174581033;Etude du comportement au vieillissement des interfaces thermiques pour modules électroniques de puissance dédiés à des applications transports;Zoubir Khatir;Khatir Zoubir;033890439;Cachan, Ecole normale supérieure;028237080;Electronique Electrotechnique Automatique;soutenue;;21-06-2013;fr;2013DENS0020;oui;29-03-2012;10-06-2020; Mouhannad Dbeiss;229940463;Mission Profile-Based Accelerated Ageing Tests of SiC MOSFET and Si IGBT Power Modules in DC/AC Photovoltaic Inverters;Yvan Avenas;Avenas Yvan;071213465;Université Grenoble Alpes (ComUE);184668794;Genie electrique;soutenue;;14-03-2018;fr;2018GREAT020;oui;18-05-2020;26-05-2020; Sonia Hamrat;233024301;Etude des échanges thermiques et conception d’un système de refroidissement pour le système de lecture du trajectographe SciFi de LHCb;Pascal Perret;Perret Pascal;139582398;Université Clermont Auvergne‎ (2017-2020);196200032;Physique;soutenue;;13-12-2017;fr;2017CLFAC104;oui;04-02-2021;04-02-2021; Emmanuel Frappé;167302353;Architecture de convertisseur statique tolérante aux pannes pour générateur pile à combustible modulaire de puissance-traction 30kW;Gérard Coquery,Claude Marchand;Coquery Gérard,Marchand Claude;074744771,076292274;Paris 11;026404664;Physique;soutenue;;17-12-2012;fr;2012PA112395;oui;01-03-2013;24-09-2020;