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Giorgio Apostolo
est l'auteur d'une thèse
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Industries des semiconducteurs
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Trace element analysis
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Giorgio Apostolo a rédigé la thèse suivante :
Ultra-trace analysis of contaminants on silicon wafer surfaces : the development of a Synchrotron Radiation - Total reflection X-Ray Fluorescence (SR-TXRF) facility at the ESRF
par
Giorgio Apostolo
sous la direction de
Joël Chevrier
et de
Fabio Comin
. -
Grenoble 1
Physique
Soutenue en 2001