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Giorgio Apostolo

est l'auteur d'une thèse

Analyse en trace des éléments Contamination à la surface Fluorescence Industries des semiconducteurs Optique de rayons X Rayonnement de synchrotron Rayonnement synchrotron Rayons X Semiconducteurs Semiconductor industries Surface contamination Synchrotron radiation Total reflection X-ray fluorescence Trace element analysis X-ray optics

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Analyse en trace des éléments Contamination à la surface Fluorescence Industries des semiconducteurs Optique de rayons X Rayonnement de synchrotron Rayonnement synchrotron Rayons X Semiconducteurs Semiconductor industries Surface contamination Synchrotron radiation Total reflection X-ray fluorescence Trace element analysis X-ray optics

Giorgio Apostolo a rédigé la thèse suivante :

Ultra-trace analysis of contaminants on silicon wafer surfaces : the development of a Synchrotron Radiation - Total reflection X-Ray Fluorescence (SR-TXRF) facility at the ESRF

par Giorgio Apostolo sous la direction de Joël Chevrier et de Fabio Comin . - Université Joseph Fourier (Grenoble)

Physique

Soutenue en 2001

Thèse soutenue