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Giorgio Apostolo

est l'auteur d'une thèse

Analyse en trace des éléments  Contamination à la surface  Fluorescence  Industries des semiconducteurs  Optique de rayons X  Rayonnement de synchrotron  Rayonnement synchrotron  Rayons X  Semiconducteurs  Semiconductor industries  Surface contamination  Synchrotron radiation  Total reflection X-ray fluorescence  Trace element analysis  X-ray optics  
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Analyse en trace des éléments  Contamination à la surface  Fluorescence  Industries des semiconducteurs  Optique de rayons X  Rayonnement de synchrotron  Rayonnement synchrotron  Rayons X  Semiconducteurs  Semiconductor industries  Surface contamination  Synchrotron radiation  Total reflection X-ray fluorescence  Trace element analysis  X-ray optics  

Giorgio Apostolo a rédigé la thèse suivante :

Ultra-trace analysis of contaminants on silicon wafer surfaces : the development of a Synchrotron Radiation - Total reflection X-Ray Fluorescence (SR-TXRF) facility at the ESRF

par Giorgio Apostolo sous la direction de Joël Chevrier et de Fabio Comin . - Grenoble 1

Physique
Soutenue en 2001
Thèse soutenue

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