Study and characterization of electrical overstress aggressors on integrated circuits and robustness optimization of electrostatic discharge protection devices

par Jorge Miguel Loayza Ramirez

Thèse de doctorat en Génie électrique

Sous la direction de Bruno Allard.

Le président du jury était Nathalie Labat.

Le jury était composé de Bruno Allard, Nathalie Labat, Marise Bafleur, Salvatore Baglio, Philippe Galy, Luong Viêt Phung.

Les rapporteurs étaient Marise Bafleur, Salvatore Baglio.

  • Titre traduit

    Etude et caractérisation des agresseurs électriques de sur-résistance sur les circuits intégrés et optimisation de la robustesse des dispositifs de protection contre les décharges électrostatiques


  • Résumé

    Cette thèse de doctorat s’inscrit dans la thématique de la fiabilité des circuits intégrés dans l’industrie de la microélectronique. Un circuit intégré peut être exposé à des agresseurs électriques potentiellement dangereux pendant toute sa durée de vie. Idéalement, les circuits devraient pouvoir encaisser ces excès d’énergie sans perdre leur fonctionnalité. En réalité, des défaillances peuvent être observées lors de tests de qualification ou en application finale. Il est donc dans l’intérêt des fabricants de réduire ces défaillances. Actuellement, il existe des circuits de protection sur puce conçus pour dévier l’énergie de ces agresseurs à l’écart des composants fragiles. Le terme anglophone Electrical Overstress (EOS) englobe tous les agresseurs électriques qui dépassent une limite au-delà de laquelle les composants peuvent être détruits. La définition de ce terme est traitée en détail dans la thèse. L’objectif de cette thèse est de comprendre le statut du sujet des EOS dans l’industrie. On propose ensuite une nouvelle méthodologie de caractérisation de circuits pour quantifier leur robustesse face à des formes d’onde représentatives présélectionnées. On propose également des solutions de circuits de protection sur puce que ce soit au niveau de nouveaux composants actifs ou au niveau de la conception des circuits électroniques de protection. Par exemple on propose un nouveau composant basé sur le thyristor qui a la capacité de s’éteindre même si la tension d’alimentation est présente sur l’anode. Une autre proposition est de désactiver les circuits de protection face aux décharges électrostatiques lorsque les puces sont dans un environnement où l’on est sur ou ces agresseurs ne présentent plus de danger. Finalement, des perspectives du travail de thèse sont citées.


  • Résumé

    This Ph.D. thesis concerns reliability issues in the microelectronics industry for the most advanced technology nodes. In particular, the Electrical OverStress (EOS) issue is studied. Reducing EOS failures in Integrated Circuits (ICs) is becoming more and more important. However, the EOS topic is very complex and involves many different causes, viewpoints, definitions and approaches. In this context, a complete analysis of the current status of the EOS issue is carried out. Then, the Ph.D. objectives can be defined in a clear way. In particular, robustness increase of on-chip protection structures and IC characterization against EOS-like aggressors are two of the main goals. In order to understand and quantify the behavior of ICs against these aggressors, a dedicated EOS test bench is put in place along with the definition of a characterization methodology. A full characterization and comparison is performed on two different Electro- Static Discharge (ESD) power supply clamps. After identifying the potential weaknesses of the promising Silicon-Controlled Rectifier (SCR) device, a new SCR-based device with a turn-off capability is proposed and studied thanks to 3-D Technology Computer-Aided Design (TCAD)simulation. Triggering and turn-off behaviors are studied, as well as its optimization. Finally, three different approaches are proposed for improving the robustness of the IC onchip protection circuits. They are characterized thanks to the EOS test bench which allows identifying their assets as well as their points of improvement.

Autre version

Cette thèse a donné lieu à une publication en 2017 par Doc'INSA à Villeurbanne

Study and characterization of electrical overstress aggressors on integrated circuits and robustness optimization of electrostatic discharge protection devices


Consulter en bibliothèque

La version de soutenance existe

Où se trouve cette thèse\u00a0?

  • Bibliothèque : Institut national des sciences appliquées (Villeurbanne, Rhône). Service Commun de la Documentation Doc’INSA. Bibliothèque numérique.
Voir dans le Sudoc, catalogue collectif des bibliothèques de l'enseignement supérieur et de la recherche.

Consulter en bibliothèque

Cette thèse a donné lieu à une publication en 2017 par Doc'INSA à Villeurbanne

Informations

  • Sous le titre : Study and characterization of electrical overstress aggressors on integrated circuits and robustness optimization of electrostatic discharge protection devices
  • Détails : 1 vol. (pag; mult. Lvii, 200 p.)
  • Notes : Synthèse de la thèse en français p. xv-lvii.
  • Annexes : Bibliogr. p.193-200
La version de soutenance de cette thèse existe aussi sous forme papier.

Où se trouve cette thèse\u00a0?

Voir dans le Sudoc, catalogue collectif des bibliothèques de l'enseignement supérieur et de la recherche.