Recherche Avancée

Thèse soutenue

FR
Auteur / Autrice : Christelle Leseigneur
Direction : Anne Louis, David Baudry
Type : Thèse de doctorat
Discipline(s) : Électronique
Date : Soutenance en 2010
Etablissement(s) : Rouen

Résumé

FR  |  
EN

Les exigences CEM sont de plus en plus sévères et doivent être prises en compte dès la phase de conception de dispositifs électroniques. Pour cela, il est nécessaire de disposer de modèle traduisant le comportement électromagnétique des cartes et composants. Cette thèse, effectuée à l'IRSEEM, a pour objectif de développer des modèles d'immunités rayonnées de circuit électronique. Ces modèles doivent permettre un pré-dimensionnement du couplage en champ proche entre une onde électromagnétique non-uniforme et un circuit électronique. L'objectif de ces modèles étant d'obtenir une résolution plus rapide que les logiciels électromagnétiques commerciaux actuellement à notre disposition. Pour ce faire, une première étude analysant le couplage entre des ondes non-uniformes générées par une sonde électrique ou une sonde magnétique avec une ligne de transmission a été effectuée. Un calcul analytique du champ rayonné par les sondes est proposé. Puis, à l'aide de la théorie des images et du modèle de Taylor simplifié, nous sommes en mesure de restituer la tension induite dans la ligne et engendrée par les champs rayonnés. Ensuite nous proposons deux méthodes permettant d'analyser le couplage entre une perturbation électromagnétique émise par un système électronique (source de rayonnement parasite) et une ligne de transmission (victime). Dans les deux cas la tension induite dans la ligne est calculée à l'aide de la théorie des lignes de transmission et du modèle de Taylor ou d'Agrawal. Par contre, le champ excitateur est calculé par deux approches : - un réseau de sources élémentaires (dipôles électriques et magnétiques), modélisant la source, et la Théorie des Images - la décomposition en une somme d’ondes planes de la cartographie de la source à l'aide de la théorie du spectre d'ondes planes et des propriétés de réfection d'une onde plane. Dans les deux cas nous avons validé notre méthodologie par des simulations et mesures réalisées sur des circuits passifs ou actifs. Ces deux méthodes donnent de bons résultats et permettent d'estimer les perturbations induites dans les circuits victimes.