Thèse soutenue

Caractérisation de structures du type couche sur substrat par ultrasons-lasers

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Auteur / Autrice : Michaël Lemaire
Direction : Mohamed OurakFrédéric Jenot
Type : Thèse de doctorat
Discipline(s) : Électronique
Date : Soutenance en 2008
Etablissement(s) : Valenciennes

Résumé

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L’utilisation croissante des structures du type couche sur substrat dans des domaines tels que l’électronique, la microélectronique ou l’optique rend indispensable le contrôle des différentes propriétés physiques de celles-ci. La caractérisation des propriétés élastiques et la détermination de l’épaisseur de la couche peuvent être réalisées de manière non destructive par ultrasons. Plus particulièrement, les sources laser permettent de générer et de détecter différentes ondes acoustiques dont l’onde de Rayleigh. La technique laser-ultrasons présente l’avantage de ne pas nécessiter de contact avec la structure à inspecter contrairement aux méthodes ultrasonores dites « classiques ». Dans des structures du type couche sur substrat, l’onde de Rayleigh est perturbée par la présence de la couche et devient dispersive. Différents modes de propagation appelés modes de Rayleigh peuvent alors être étudiés. Le but de ce travail a été de contribuer à la caractérisation de structures du type couche sur substrat. Un modèle de simulation par éléments finis a aussi été développé afin de prédire la propagation du premier mode de Rayleigh. Les résultats expérimentaux sont obtenus par deux méthodes laser complémentaires permettant des mesures sur une plage fréquentielle comprise entre 5 MHz et 200 MHz. La dispersion du premier mode de Rayleigh est analysée afin de déterminer les épaisseurs et les constantes élastiques des couches considérées