Analogue Network of Converters : a DfT Technique to Test a Complete Set of ADCs and DACs Embedded in a Complex SiP or SoC

par Vincent Kerzerho

Thèse de doctorat en Systèmes automatiques et microélectroniques

Sous la direction de Michel Renovell.

Soutenue en 2008

à Montpellier 2 .

  • Titre traduit

    Etude d'une instrumentation embarquée pour test de système électronqiue


  • Résumé

    Une nouvelle méthode de test pour des convertisseurs ADC et DAC embarqués dans un système complexe a été développée. Cette méthode a été développée en prenant en compte les nouvelles contraintes affectant le test. Ces contraintes, dues aux tendances de design des systèmes, sont : un nombre réduit de point d'accès aux entrées/sorties des blocs analogies du système et augmentation galopante du nombre et des performances des convertisseurs intégrés. Pour la méthode on propose de connecter les convertisseurs DAC et ADC dans le domaine analogique pour n'avoir besoin que d'instruments de test digitaux pour générer et capturer les signaux de test. Un algorithme de traitement du signal a été développé pour discriminer les erreurs des DACs et ADCs. Cet algorithme a été validé par simulation et par expérimentation sur des produits commercialisés de NXP. La dernière partie de la thèse a consisté a développer des nouvelles applications pour l'algorithme


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Informations

  • Détails : 2 vol. ([161]-14 p.)
  • Annexes : Bibliographie

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  • Bibliothèque : Bibliothèque interuniversitaire. Section Sciences.
  • Disponible pour le PEB
  • Cote : TS 2008.MON-71
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