Modélisation de fautes et test des mémoires flash

par Olivier Ginez

Thèse de doctorat en Micro-électronique

Sous la direction de Patrick Girard et de Serge Pravossoudovitch.

Soutenue en 2007

à Montpellier 2 .

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Cette thèse a donné lieu à une publication en 2007 par [CCSD] [diffusion/distribution] à Villeurbanne

Modélisation de fautes et test des mémoires flash

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Informations

  • Détails : 1 vol. (141 p.)
  • Annexes : Bibliogr. p. 106-111. Annexes

Où se trouve cette thèse\u00a0?

  • Bibliothèque : Ecole nationale supérieure de l'électronique et de ses applications. Centre de documentation.
  • Disponible pour le PEB
  • Cote : ARCH-GF-4474
  • Bibliothèque : Bibliothèque interuniversitaire. Section Sciences.
  • Disponible pour le PEB
  • Cote : TS 2007.MON-237
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