@PHDTHESIS{Ney2007,
url = "
		http://www.theses.fr/2007INPG0032",
title = "Étude de la fiabilité en électromigration dans les interconnexions en cuivre pour les technologies avancées de la microélectronique",
author = "Ney, David",
year = "2007",
pages = "1 vol. (200 p.)",
note = "Thèse de doctorat dirigée par Thomas, Olivier et Girault, Valérie Micro et nanoélectronique Grenoble INPG 2007",
note = "2007INPG0032",
}