Etude et réalisation d'une nouvelle cellule TEM à support rotatif pour des mesures CEM des circuits : Application du modèle ICEM

par Adil El Abbazi

Thèse de doctorat en Électronique

Sous la direction de M'hamed Drissi et de Ramdani.

Soutenue en 2006

à Rennes, INSA .


  • Résumé

    L'essor des applications microélectroniques, qui fonctionnent à des fréquences élevées, nécessite le développement de nouveaux modèles ainsi que des méthodes de mesure adéquates en CEM des circuits intégrés (C. I). Une méthode clef d’évaluation du rayonnement de circuits est la mesure par la cellule TEM. Nous développons dans ce mémoire les résultats d'étude, d’optimisation et de réalisation de la cellule TEM ainsi que le développement de modèle ICEM. Nous avons mis en évidence l’efficacité de mesure de la cellule réduisant les perturbations électromagnétiques externe grâce à la cloche de protection et permet ainsi une meilleure précision de la localisation des sources rayonnantes du composant. Ces études ont bénéficié du développement du model ICEM du microcontrôleur prenant en compte de nombreux aspects technologiques. Ces résultats de conception de la cellule et du modèle ICEM sont d’un grand intérêt pour prédire toute émission du C. I avant fonderie.

  • Titre traduit

    Study and realization of a new TEM cell with rotary support for EMC measurement of integrated circuits : Application of ICEM model


  • Résumé

    The quick growth of electronic applications towards higher frequencies requires the development of new models as well as appropriate measurement methods regarding EMC in integrated circuits (I. C). TEM cell measurement is one of the key methods making it possible to evaluate the emission of these circuits. In this thesis, the results of the study, the design and the optimization of a TEM cell, as well as the development of the ICEM model, will be presented. The measurement effectiveness of the cell, which reduces RF interference thanks to a protection bell, is highlighted; it enables to improve localization accuracy for the emission sources of the component. This study has taken advantage of the development of the ICEM model of the microcontroller, taking into account many technological aspects. Finally, we noted that the results of the TEM cell design and of the ICEM model are highly significant to predict any emission of the IC before tapeout.

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Informations

  • Détails : 200 p.
  • Notes : Publication autorisée par le jury
  • Annexes : Bibliogr. p. 194-95 (120 réf.). Index

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  • Bibliothèque : Institut National des Sciences Appliquées. Bibliothèque.
  • Disponible pour le PEB
  • Cote : THE ELA
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