Contribution au test intégré déterministe : structures de génération de vecteurs de test

Deterministic test vector generator structures for built in self test

• Auteur / Autrice : Lew Yan Voon
• Direction : Christian Landrault
• Type : Thèse de doctorat
• Discipline(s) : Composants, signaux et systèmes
• Date : Soutenance en 1992
• Etablissement(s) : Montpellier 2

Mots clés

Mots clés contrôlés

Analyse multivariée

Logiciels

Simulation, Méthodes de

Essais (technologie)

Robotique

Machines séquentielles, Théorie des

Circuits intégrés à très grande échelle

Conception assistée par ordinateur

Résumé

Ce memoire concerne la synthese de structures de generation de vecteurs de test (gvt) deterministes. Une etude empirique, basee sur des simulations exhaustives, des sequences generees par des registres a decalage a retroaction lineaire et non-lineaire montre que ces derniers sont inaptes a produire des sequences de vecteurs de test deterministes. Nous avons donc etendu notre recherche au cas general de machine d'etats finis lineaire et autonome (mefla) avec inversion. Apres avoir presente les principes fondamentaux d'une mefla avec inversion, nous proposons une methode de synthese de structures gvt deterministes et deterministe/pseudo-aleatoire