Etude et réalisation d'un générateur automatique de vecteurs de test : impact des techniques d'intelligence artificielle sur le test de pannes réalistes

Mixed-level automatic test pattern generation: fast realistic fault testing for complex c. M. O. S. Circuits

• Auteur / Autrice : Stéphane Paul
• Direction : Serge Pravossoudovitch
• Type : Thèse de doctorat
• Discipline(s) : Composants, signaux et systèmes
• Date : Soutenance en 1991
• Etablissement(s) : Montpellier 2

Mots clés

Mots clés contrôlés

Apprentissage automatique

Langages de programmation orientés objet

Systèmes experts (informatique)

Intelligence artificielle

Algorithmes

Complexité de calcul (informatique)

Essais (technologie)

MOS complémentaires

Résumé

Cette etude se situe dans le cadre de la generation automatique de vecteurs de test pour circuits digitaux c. M. O. S. Elle a pour but le test de pannes realistes au niveau transistors. L'approche proposee s'appuie sur les concepts algorithmiques developpes pour les pannes de collages au niveau portes. Les techniques d'intelligence artificielle utilisees sont la hierarchie et l'apprentissage. La hierarchisation structurelle autorise la description de cellules complexes et l'injection de pannes au niveau transistors. La hierarchisation fonctionnelle permet de conserver, voire meme augmenter les vitesses traditionnelles d'execution. Enfin, les techniques d'apprentissage, basees sur le processus d'injection, etablissent un compromis espace memoire/temps de calcul favorable a leur exploitation. Elles sont de plus compatibles avec les techniques d'apprentissage existantes