Caractérisation électrique des structures bipolaires VLSI : évaluation de paramètres critiques

The electrical characterization of VLSI bipolar structures : evaluation of critical parameters

• Auteur / Autrice : Jean-Marie Pham
• Direction : Jean-Paul Dom
• Type : Thèse de doctorat
• Discipline(s) : Électronique
• Date : Soutenance en 1991
• Etablissement(s) : Bordeaux 1

Mots clés

Mots clés contrôlés

Circuits intégrés à très grande échelle

Résumé

Dans le contexte des circuits vlsi se sont developpees de nouvelles structures bipolaires avancees miniaturisees. La premiere partie du memoire presente les originalites de ces structures et donne une vue d'ensemble de leurs technologies. La seconde partie s'interesse a leur modelisation. Elle expose une methode originale d'extraction de parametres dynamiques critiques a partir de mesures electriques simples effectuees sur des circuits de test de mise en Œuvre aisee