Génération fonctionnelle du test de circuits a haute densité d’intégration

par Christophe Bianchi

Thèse de doctorat en Electronqiue : Dispositifs de l'électronique intégrée

Sous la direction de Jean-Pierre Chante.

Soutenue en 1990

à Lyon, INSA , en partenariat avec LCPA - Laboratoire de composants de puissance et applications (Lyon, INSA) (laboratoire) .


  • Résumé

    Ce mémoire de thèse présente une approche innovante dans le domaine de la génération du test de circuits à haute densité d'intégration. Dans le cadre d'un outil de conception de type compilateur de silicium, une méthodologie fonctionnelle de génération du test a été définie, mise en œuvre et validée. Les résultats obtenus prouvent la pertinence de cette méthodologie qui permet d'obtenir des tests efficaces et très adaptés à la validation fonctionnelle de prototypes.

  • Titre traduit

    = Functional test generation of high density integrated circuits


  • Résumé

    This document describes an innovative approach in the field of test generation for high density integrated circuits. In the framework of a silicon compiler design tool, a functional methodology for test generation has been defined, developped and validated. The results obtained show the pertinenc:yof this methodology that gives efficient test patterns adapted to the functional verification of prototypes.

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La version de soutenance existe sous forme papier

Informations

  • Détails : 1 vol. Pag. mult (130 p.)
  • Notes : Publication autorisée par le jury
  • Annexes : Bibliogr.

Où se trouve cette thèse\u00a0?

  • Bibliothèque : Institut national des sciences appliquées (Villeurbanne, Rhône). Service Commun de la Documentation Doc'INSA.
  • Disponible pour le PEB
  • Cote : C.83(1223)

Cette version existe également sous forme de microfiche :

  • Bibliothèque : Service interétablissements de Documentation (Saint-Martin d'Hères, Isère). Bibliothèque universitaire Joseph-Fourier.
  • Non disponible pour le PEB
  • Cote : MF-1990-BIA
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