Mise au point d'un appareillage de mesure de l'indice de réfraction des semiconducteurs III-V au voisinage du gap

Instrumentation design for the determination of the refractive index of iii-v semiconductors near the energy gap

• Auteur / Autrice : El Mostafa Skouri
• Direction : Claude Alibert
• Type : Thèse de doctorat
• Discipline(s) : Composants,signaux et bruit
• Date : Soutenance en 1988
• Etablissement(s) : Montpellier 2

Mots clés

Mots clés contrôlés

Réfraction

Composés semiconducteurs

Résumé

Mise en place d'un appareillage automatise permettant la mesure de la partie reelle de l'indice de refraction des semiconducteurs iii-v entre 0,5 et 2,5 microns. La methode est basee sur la mesure du pouvoir reflecteur d'un echantillon en fonction de l'angle d'incidence d'une onde plane monochromatique polarisee p ou s