Michel Pitaval
IdRefMots clés
FR
Arséniure de gallium
Silicium
Épitaxie
Microscopie électronique en transmission
Phosphure d'indium
MOS complémentaires
Épitaxie par faisceaux moléculaires
Transistors à effet de champ
Dépôt en phase vapeur par organométalliques
Cristaux -- Défauts
Hétérostructures
Relaxation des contraintes
Dislocations dans les semiconducteurs
Bruit
Microtechniques
Dosimétrie
Microspectrophotométrie
Capteurs optiques
Imagerie (technique)