Binh Vu Thien
IdRefMots clés
FR
Microscopie électronique
Émission de champ
Silicium
Nanotubes
Effet tunnel
Canons à électrons
États électroniques de surface
Microscopie ionique à émission de champ
Diffraction
Microscopie tunnel à balayage
Trichites métalliques
Cristaux métalliques -- Croissance
Épitaxie par faisceaux moléculaires
Électrons -- Diffraction
Métaux -- Surfaces
Semiconducteurs
Emission électronique
émission champ
Couche mince
échelle nanométrique