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Christian Landrault

a dirigé 15 thèses
a été rapporteur pour 1 thèse
a été membre de jury pour 2 thèses

Algorithmes Analyse de défaillance Analyse multivariée Analyse vectorielle Automates d'états finis Cartes à mémoire Circuits d'interface Circuits intégrés Circuits intégrés numériques Circuits intégrés à grande échelle Circuits intégrés à la demande Circuits intégrés à très grande échelle Circuits électroniques -- Calcul Circuits électroniques Composants électroniques Conception assistée par ordinateur Diagnostic ATPG Défauts Essais Estimation de paramètres Fiabilité Génération de test Génération hiérarchisée de test Intel Langage déclaratif Langages de description de matériel Lignes à retard MOS MOS complémentaires Machines séquentielles, Théorie des Microélectronique Modèle fonctionnel Modèles mathématiques OBIRCh Pannes Petri, Réseaux de Produits cartésien de machines Propagation retardées Robotique Réseaux électriques d'interconnexion Simulation, Méthodes de Systèmes informatiques Techniques optiques Test fonctionnel Test par identification d'automates Traitement du signal -- Techniques numériques Valeurs symboliques Éléments finis, Méthode des

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Algorithmes Analyse de défaillance Analyse multivariée Analyse vectorielle Automates d'états finis Cartes à mémoire Circuits d'interface Circuits intégrés Circuits intégrés numériques Circuits intégrés à grande échelle Circuits intégrés à la demande Circuits intégrés à très grande échelle Circuits électroniques -- Calcul Circuits électroniques Composants électroniques Conception assistée par ordinateur Diagnostic ATPG Défauts Essais Estimation de paramètres Fiabilité Génération de test Génération hiérarchisée de test Intel Langage déclaratif Langages de description de matériel Lignes à retard MOS MOS complémentaires Machines séquentielles, Théorie des Microélectronique Modèle fonctionnel Modèles mathématiques OBIRCh Pannes Simulation, Méthodes de

Christian Landrault a dirigé les 15 thèses suivantes :

Utilisation pratique du reset partiel : initialisation pour le test intégré de circuits fortement séquentiels

par Isabelle Vogel sous la direction de Christian Landrault - Montpellier 2

Automatique, traitement du signal et génie informatique

Soutenue en 2002

Thèse soutenue

Test intégré des circuits séquentiels

par Aurélia Petitqueux sous la direction de Christian Landrault - Montpellier 2

Automatique, traitement du signal et génie informatique

Soutenue en 2000

Thèse soutenue

Techniques de BIST pour le test en ligne

par Olivier Potin sous la direction de Christian Landrault - Montpellier 2

Électronique, optronique et systèmes

Soutenue en 1999

Thèse soutenue

Contribution à la caractérisation et à la modélisation des capacités en technologie CMOS

par Alain Toulouse sous la direction de Christian Landrault - Montpellier 2

Électronique, optronique et systèmes

Soutenue en 1998

Thèse soutenue

Test et test intégré de pannes temporelles

par Véronique Moreda sous la direction de Christian Landrault - Montpellier 2

Génie informatique, automatique et traitement de signal

Soutenue en 1998

Thèse soutenue

Analyse de testabilité et ressources JTAG : problèmes d'initialisation, de contrôlabilité et d'observabilité dans les composés électroniques logiques MCM et cartes

par Marc Perbost sous la direction de Christian Landrault - Montpellier 2

Électronique, optronique et systèmes

Soutenue en 1997

Thèse soutenue

Test intégré autonome des circuits analogiques et mixtes

par Hassan Ihs sous la direction de Christian Landrault - Montpellier 2

Électronique, optronique et systèmes

Soutenue en 1997

Thèse soutenue

Contribution au test intégré : optimisation des générateurs de vecteurs de test matériels et leur adaptation à la détection de fautes complexes

par Hélène Viallon sous la direction de Christian Landrault - Montpellier 2

Électronique, optronique et systèmes

Soutenue en 1996

Thèse soutenue

Contribution au test intégré : générateurs de vecteurs de test mixtes déterministes et pseudo-aléatoires

par Cyril Chevalier sous la direction de Christian Landrault - Montpellier 2

Automatique, traitement du signal et génie informatique

Soutenue en 1994

Thèse soutenue

Contribution au test intégré déterministe : structures de génération de vecteurs de test

par Lew Yan Voon et Lew Fock Chong sous la direction de Christian Landrault - Montpellier 2

Composants, signaux et systèmes

Soutenue en 1992

Thèse soutenue

Contribution au test déterministe des circuits cmos : équivalences de pannes

par Marie-Lise Flottes sous la direction de Christian Landrault - Montpellier 2

Composants, signaux et systèmes

Soutenue en 1990

Thèse soutenue

Modélisation pour l'évaluation de retard dans les structures CMOS : algorithmes et exemples

par Véronique Nouaze sous la direction de Christian Landrault et de Denis Deschacht . - Montpellier 2

Composants, signaux et systèmes

Soutenue en 1988

Thèse soutenue

Conception, réalisation et validation du simulateur concurrent de fautes LOFSCATE

par Pascale Pinède sous la direction de Christian Landrault - Montpellier 2

Composants, signaux et systèmes. Automatique

Soutenue en 1988

Thèse soutenue

Conception et réalisation du préprocesseur du simulateur concurrent de fautes LOFSCATE

par Lahcen Allali sous la direction de Christian Landrault - Montpellier 2

Automatique

Soutenue en 1987

Thèse soutenue

Contribution à l'utilisation des réseaux de Pétri à prédicats transitions pour la modélisation de systèmes

par Anne Gascard sous la direction de Christian Landrault - Montpellier 2

Sciences

Soutenue en 1987

Thèse soutenue

Christian Landrault a été rapporteur de la thèse suivante :

Développement et application d’une méthode d’analyse de défaillances fonctionnelles et contribution à l’amélioration de l’utilisation des techniques optiques statiques et dynamiques

par Aziz Machouat sous la direction de Dean Lewis - Bordeaux 1

Electronique

Soutenue le 10-12-2008

Thèse soutenue

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Christian Landrault a été membre de jury des 2 thèses suivantes :

Génération de test de circuits intégrés fondée sur des modèles fonctionnels

par Margot Karam sous la direction de Gabrièle Saucier - Grenoble INPG

Signal Image Parole

Soutenue en 1991

Thèse soutenue

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Génération de test fonctionnel de circuits digitaux décrits avec un langage déclaratif : Lustre

par Mazen Al Mahrous sous la direction de Catherine Bellon - Grenoble INPG

microélectronique

Soutenue en 1990

Thèse soutenue

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