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Bernard Balland

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Bernard Balland a dirigé les 17 thèses suivantes :

Caractérisation et modélisation des propriétés des couches de SiO2 : application aux têtes de lecture-écriture pour disques durs et aux mémoires EEPROM

par Silvia Croci sous la direction de Bernard Balland - Lyon, INSA

Électronique
Soutenue en 2001
Thèse soutenue

Réalisation et analyse-caractérisation de dispositifs MOS à diélectrique de grille Ta2O5

par Christophe Chanelière sous la direction de Bernard Balland - Lyon, INSA

Dispositifs de l’'électronique intégrée
Soutenue en 1999
Thèse soutenue

Accéder en ligne

Etude par pompage de charge et par mesures de bruit basse fréquence de transistors MOS à oxynitrures de grille ultra-minces

par Pascal Masson sous la direction de Bernard Balland - Lyon, INSA

Electronique
Soutenue en 1999
Thèse soutenue

Etude des mécanismes de gravure des grilles polysilicium en plasma haute densité pour les technologies CMOS submicroniques : caractérisation des défauts électriques induits sur structures MOS

par Christophe Vérove sous la direction de Bernard Balland - Lyon, INSA

Dispositif de l'électronique intégrée
Soutenue en 1998
Thèse soutenue

Détection et caractérisation de défauts individuels électriquement actifs dans des cellules mémoires de dispositifs "DRAM"

par Sylvie Pierunek sous la direction de Bernard Balland - Lyon, INSA

Génie électronique
Soutenue en 1997
Thèse soutenue

Adaptation des méthodes de caractérisation électrique au cas des structures M. O. S. à oxyde très mince : application à l’étude des dégradations sur les capacités à oxyde de grille nitrure

par Frédéric Seigneur sous la direction de Bernard Balland - Lyon, INSA

Électronique
Soutenue en 1995
Thèse soutenue

Etude de bore implante a faible énergie dans le système SIO2/Si-MONO : Effet d'un recuit thermique RTA sur la diffusion de l'implant et le spectre de défauts ponctuels

par Lanouar Kaabi sous la direction de Bernard Balland - Lyon, INSA

Electronique
Soutenue en 1994
Thèse soutenue

Contribution au développement de nouvelles techniques de pompage de charge pour l'étude des défauts d'interface dans les transistors MOS silicium submicroniques

par Jean-Luc Autran sous la direction de Bernard Balland - Lyon, INSA

Dispositifs de l'Electronique Intégrée
Soutenue en 1994
Thèse soutenue

Mise au point d'un dispositif expérimental pour l’étude des structures MOS : Application à l’étude du vieillissement des TMOS microniques par la technique de pompage de charge

par Farid Djahli sous la direction de Bernard Balland - Lyon, INSA

Electronique
Soutenue en 1992
Thèse soutenue

Dépôt chimique en phase vapeur à l’intérieur d'une décharge électrique de courant continu : Application au nitrure de silicium

par Roger Botton sous la direction de Bernard Balland - Lyon, INSA

Dispositif de l'électronique intégrée
Soutenue en 1991
Thèse soutenue

Influence de la technologie de fabrication sur les propriétés électriques des structures capacitives MIS

par Marie-Françoise Blanc-Mignon sous la direction de Bernard Balland - Lyon, INSA

Electronqiue - Dispositifs de l'électronique intégrée
Soutenue en 1990
Thèse soutenue

Etude de la migration ionique dans les structures métal-isolant-silicium

par Christophe Choquet sous la direction de Bernard Balland - Lyon, INSA

Dispositifs de l’électronique intégrée
Soutenue en 1989
Thèse soutenue

Nitruration des couches minces d'oxyde de silicium par activation thermique et par simulation electronique

par Ahmad Benamar sous la direction de Bernard Balland - Lyon, INSA

Chimie - Dispositifs de l'électronique intégrée
Soutenue en 1989
Thèse soutenue

Développement d'une filière technologique CMOS à grille tungstène

par Véronique Lubowiecki sous la direction de Bernard Balland - Lyon, INSA

Sciences des Matériaux et des surfaces
Soutenue en 1988
Thèse soutenue

Développement de techniques d'analyse électrique et électro-optique des dispositifs MOS

par Jean-Pierre Follegot sous la direction de Bernard Balland - Lyon, INSA

Electronique
Soutenue en 1985
Thèse soutenue

Développement des techniques de caractérisation capacitives

par Boudjemaa Remaki sous la direction de Bernard Balland - Lyon, INSA

Electronique
Soutenue en 1985
Thèse soutenue

Etude des défauts électriques associes à l'or et au fer dans le silicium

par Larbi Selmani sous la direction de Bernard Balland - Lyon, INSA

Electronique
Soutenue en 1985
Thèse soutenue

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