Olivier Heron
IdRefMots clés
FR |
EN
Fiabilité
Vieillissement
Circuits intégrés numériques
Moniteur in-Situ
Téchnologie CMOS
BTI.HCI. capteur de vieillissement
Variabilité
Régulation de la tension d'alimentation
Durée de vie (ingénierie)
MOS (électronique)
Alimentations (électricité)
Fiabilité des circuits numériques
Bti
Hci
Pvt
Architectures adaptative
Composants électroniques
Circuits intégrés
Consommation d'énergie
Température