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Jean-Philippe Piel

est l'auteur d'une thèse

Caracterisation Characterization Electrical method Electronique Ellipsometrie spectroscopique Field effect transistor Indium phosphides Indium phosphure Methode electrique Mis transistor Sciences appliquees Silicium nitrure Silicium oxyde Silicon nitrides Silicon oxides Spectroscopic ellipsometry Transistor effet champ Transistor mis

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Caracterisation Characterization Electrical method Electronique Ellipsometrie spectroscopique Field effect transistor Indium phosphides Indium phosphure Methode electrique Mis transistor Sciences appliquees Silicium nitrure Silicium oxyde Silicon nitrides Silicon oxides Spectroscopic ellipsometry Transistor effet champ Transistor mis

Jean-Philippe Piel a rédigé la thèse suivante :

Caracterisation de structures mis par methodes electriques et par ellipsometrie spectroscopique : application au transistor a effet de champ sur inp

par Jean-Philippe Piel sous la direction de André Fortini - Caen

Sciences appliquées

Soutenue en 1987

Thèse soutenue