Marc Bourcerie
IdRefMots clés
FR |
EN
Petri, Réseaux de
Analyse des systèmes
Systèmes échantillonnés
Sciences appliquees
Electronique
Transistor effet champ
Transistor mos
Degradation
Porteur chaud
Defaut electrique
Etat electronique interface
Piege electrique
Duree vie
Field effect transistor
Mos transistor
Hot carrier
Electric fault
Interface electron state
Electric trap
Lifetime