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Serge Pravossoudovitch a rédigé la thèse suivante :

Contribution au test des circuits intégrés MOS : génération automatique de vecteurs de test au niveau transistors interrupteurs

par Serge Pravossoudovitch sous la direction de Christian Durante - Montpellier 2

Sciences

Soutenue en 1987

Serge Pravossoudovitch a dirigé les 17 thèses suivantes :

Signal Integrity - Aware Pattern Generation for Delay Testing

par Anu Asokan sous la direction de Serge Pravossoudovitch et de Patrick Girard . - Montpellier

Systèmes automatiques et microélectroniques

Soutenue le 09-12-2015

Amélioration de la localisation de défauts dans les circuits digitaux par diagnostic au niveau transistor

par Zhenzhou Sun sous la direction de Patrick Girard et de Serge Pravossoudovitch . - Montpellier 2

Systèmes Automatiques et Microélectroniques

Soutenue le 16-05-2014

Test de mémoires SRAM à faible consommation

par Leonardo Henrique Bonet Zordan sous la direction de Patrick Girard et de Serge Pravossoudovitch . - Montpellier 2

Systèmes automatiques et microélectroniques

Soutenue le 06-12-2013

Test et fiabilité des mémoires MRAM

par João Batista Seabra de Azevedo sous la direction de Serge Pravossoudovitch et de Patrick Girard . - Montpellier 2

Systèmes automatiques et microélectronique

Soutenue le 11-10-2013

Architecture hybride tolérante aux fautes pour l'amélioration de la robustesse des circuits et systèmes intégrés numériques.

par Duc Anh Tran sous la direction de Serge Pravossoudovitch - Montpellier 2

SYAM - Systèmes Automatiques et Microélectroniques

Soutenue le 21-12-2012

Test et Fiabilité des Mémoires SRAM

par Renan Alves Fonseca sous la direction de Serge Pravossoudovitch - Montpellier 2

SYAM - Systèmes Automatiques et Microélectroniques

Soutenue le 21-07-2011

Test et testabilité de structures numériques tolérantes aux fautes

par Julien Vial sous la direction de Serge Pravossoudovitch - Montpellier 2

Automatique, traitement du signal et génie informatique

Soutenue en 2009

Modélisation de fautes et test des mémoires flash

par Olivier Ginez sous la direction de Patrick Girard et de Serge Pravossoudovitch . - Montpellier 2

Micro-électronique

Soutenue en 2007

Test de pannes temporelles dans les circuits programmables de type FPGA-SRAM

par Olivier Heron sous la direction de Serge Pravossoudovitch - Montpellier 2

Automatique, traitement du signal et génie informatique

Soutenue en 2004

Test faible consommation des circuits munis de chaînes de scan

par Yannick Bonhomme sous la direction de Serge Pravossoudovitch - Montpellier 2

Automatique, traitement du signal et génie informatique

Soutenue en 2003

Test intégré des circuits digitaux : analyse et génération de séquences aléatoires adjacentes

par Arnaud Virazel sous la direction de Serge Pravossoudovitch - Montpellier 2

Automatique, traitement du signal et génie informatique

Soutenue en 2001

Réduction de la consommation durant le test des circuits VLSI

par Loïs Guiller sous la direction de Serge Pravossoudovitch - Montpellier 2

Automatique, traitement du signal et génie informatique

Soutenue en 2000

Contribution à l'optimisation en puissance des circuits CMOS et application au test fonctionnel

par Daniel Severac sous la direction de Serge Pravossoudovitch - Montpellier 2

Électronique, optronique et systèmes

Soutenue en 1998

Contribution au test des pannes temporelles : diagnostic et génération de vecteurs de test orientée diagnostic

par Béatrice Rodriguez sous la direction de Serge Pravossoudovitch - Montpellier 2

Informatique, automatique et traitement su signal

Soutenue en 1996

Diagnostic et simulation de pannes temporelles dans les circuits digitaux

par David Dumas sous la direction de Serge Pravossoudovitch - Montpellier 2

Informatique, automatique et traitement du signal

Soutenue en 1994

Diagnostic de pannes temporelles dans les circuits digitaux

par Patrick Girard sous la direction de Serge Pravossoudovitch - Montpellier 2

Composants, signaux et systèmes

Soutenue en 1992

Etude et réalisation d'un générateur automatique de vecteurs de test : impact des techniques d'intelligence artificielle sur le test de pannes réalistes

par Stéphane Paul sous la direction de Serge Pravossoudovitch - Montpellier 2

Composants, signaux et systèmes

Soutenue en 1991

Serge Pravossoudovitch a été président de jury des 2 thèses suivantes :

Conception en vue du Test des Circuits Intégrés 3D à base de TSVs

par Yassine Fkih sous la direction de Bruno Rouzeyre - Montpellier 2

Systèmes automatiques et microélectroniques

Soutenue le 14-11-2014

Diagnostic de pannes électriques dans les systèmes logiques

par Youssef Ben Abboud (Benabboud) sous la direction de Patrick Girard - Montpellier 2

génie informatique, automatique et traitement du signal

Soutenue le 30-04-2010

Serge Pravossoudovitch a été membre de jury de la thèse suivante :

Study and Reduction of Power Consumption during Test of Digital Circuits

par Fangmei Wu sous la direction de Patrick Girard - Montpellier 2

SYAM - Systèmes Automatiques et Microélectroniques

Soutenue le 12-10-2011